Localized levels of amorphous chalcogenide films evaluated by infrared photothermal deflection spectroscopy, Tamihiro Gotoh, 第35回相変化研究会, 2023年11月17日, 熱海, 日本国
赤外光熱偏向分光法によるGe2Sb2Te5薄膜のギャップ内準位評価, 後藤民浩, 第70回応用物理学会春季学術講演会, 2023年03月16日
Sn-Se蒸着膜の光学的・電気的性質, 飯田碧、多胡秀斗、後藤民浩, 第84回応用物理学会秋季学術講演会, 2023年09月23日
光熱偏向分光法によるSb-Te薄膜のギャップ内準位評価, 後藤民浩、澤田航、飯田碧, 第84回応用物理学会秋季学術講演会, 2023年09月23日, 2023年09月19日, 2023年09月23日, 日本語, 熊本市
透過・反射分光法によるGe2Sb2Te5薄膜の屈折率評価, 後藤民浩, 第83回応用物理学会秋季学術講演会, 2022年09月22日
反射分光法によるアモルファスセレン薄膜の評価, 後藤 民浩, 2022年第69回応用物理学会春季学術講演会, 2022年03月22日
Localized states of Ge2Sb2Te5 films evaluated by infrared photothermal deflection spectroscopy, Tamihiro Gotoh, 第33回 相変化研究会シンポジウム, 2021年11月18日, 2021年11月18日, 2021年11月18日, 英語
光熱偏向分光法による熱処理セレン薄膜の評価, 後藤民浩, 第82回応用物理学会秋季学術講演会, 2021年09月12日
相変化メモリ・セレクタ材料の局在準位評価 , 後藤民浩; Min Zhu, 2021年第68回応用物理学会春季学術講演会, 2021年03月17日
硫化ゲルマニウム薄膜の電子物性と局在準位評価 , 黒岩 昌悟; 後藤 民浩, 2021年第68回応用物理学会春季学術講演会, 2021年03月16日
アモルファスセレン薄膜の欠陥準位評価, 後藤 民浩; 黒岩 昌悟, 2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会, 2020年09月08日
Ge2Sb2Te5 薄膜のギャップ内準位とキャリア特性, 後藤 民浩, 2020年第67回応用物理学会春季学術講演会, 2020年03月13日
セレン薄膜のサブギャップ光吸収ピーク, 後藤民浩, 第80回応用物理学会秋季学術講演会, 2019年09月20日
Control of carrier density in indium sulfide films by heat treatment, T. Gotoh, 28th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2019年08月06日
Optical properties of copper sulfide dendrites, T. Gotoh, 28th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2019年08月06日
Photothermal deflection spectroscopy of selenium films, T. Gotoh, 28th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2019年08月05日
樹枝状硫化銅の光吸収スペクトル, 後藤民浩; 西川遼太郎, 第66回応用物理学会春季学術講演会, 2019年03月10日
Ge2Sb2Te5薄膜の近赤外吸収, 後藤民浩, 第79回応用物理学会秋季学術講演会, 2018年09月19日
樹枝状硫化銅の作製, 後藤民浩; 廣瀬宏樹; 西川遼太郎, 第65回応用物理学会学術講演会, 2018年03月20日
熱処理による硫化インジウム薄膜のキャリア制御, 後藤民浩, 第78回秋季応用物理学会学術講演会, 2017年09月08日
Se薄膜のサブギャップ光吸収スペクトル, 後藤民浩, 第64回応用物理学会学術講演会, 2017年03月15日
熱処理による硫化物半導体の特性制御, 後藤民浩, 平成28年度プロセス研究会講演会, 2016年10月01日
硫化インジウム薄膜のギャップ内準位評価, 後藤民浩, 第77回秋季応用物理学会学術講演会, 2016年09月15日
SnS薄膜のキャリア濃度の制御, 後藤民浩, 第63回応用物理学会関係連合講演会, 2016年03月22日
相変化薄膜の特性コントラスト, 後藤民浩, 平成27年度プロセス研究会講演会, 2015年10月17日
Effects of annealing on the carrier concentration of SnS films, T. Gotoh; K. Yazawa, 26th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2015年09月14日
硫化銅薄膜のギャップ内準位評価, 後藤民浩, 第62回応用物理学会関係連合講演会, 2015年03月12日
硫黄ガス熱処理によるSnS薄膜の特性変化, 矢澤広祐; 後藤民浩, 第62回応用物理学会関係連合講演会, 2015年03月12日
熱処理によるGe2Sb2Te5薄膜のキャリア濃度変化, 後藤民浩, 第61回応用物理学会関係連合講演会, 2014年03月19日
Sub-gap states in In-S films deposited by thermal evaporation, T. Gotoh; K. Yazawa, 5th International Conference on Advanced Micro-Device Engineering, 2013年12月19日
n型ワイドギャップIn-S薄膜の光吸収スペクトル, 後藤民浩; 今井健人; 矢澤広祐, 第74回秋季応用物理学会学術講演会, 2013年09月
Effect of annealing on carrier density in Ge2Sb2Te5 films, T. Gotoh, 25th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2013年08月20日
SnS蒸着膜の電気伝導特性, 後藤民浩; 矢澤広祐; 今井健人, 第60回応用物理学会関係連合講演会, 2013年03月
Electrical Properties of SnS Films by Thermal Evaporation of Sulfurized Sn Powder, T. Gotoh; K. Yazawa; K. Imai, 4th International Conference on Advanced Micro-Device Engineering, 2012年12月07日
SnS半導体薄膜の作製とギャップ内準位の評価, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜のプロセス研究会, 2012年10月
SnS蒸着膜のギャップ内準位評価, 後藤民浩, 第73回秋季応用物理学会学術講演会, 2012年09月
Sub-gap Absorption Study of SnS Films Deposited by Thermal Evaporation of Sulfurized Sn Powder, T. Gotoh, Fifth International Conference on Optical, Optoelectronic and Photonic Materials and Applications, 2012年06月06日
Ge2Sb2Te5相変化薄膜の熱起電力特性, 後藤民浩; 金田健児, 第59回応用物理学会関係連合講演会, 2012年03月
直流スパッタ法によるアモルファスInGaZnO4薄膜の作製と熱処理効果, 金田健児; 後藤民浩, 第59回応用物理学会関係連合講演会, 2012年03月
Electrical Properties of dc-sputtered Amorphous InGaZnO4 Films, K. Kaneda; T. Gotoh, 3rd International Conference on Advanced Micro-Device Engineering, 2011年12月08日
直流スパッタ法によるアモルファスInGaZnO4薄膜の作製と評価, 金田健児; 後藤民浩, 第3回薄膜太陽電池セミナー, 2011年10月
光熱偏向分光法による相変化薄膜のギャップ内準位の評価, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜のプロセス研究会, 2011年09月
光熱偏向分光法によるGe2Sb2Te5薄膜のギャップ内準位の評価, 後藤民浩, 第72回秋季応用物理学会学術講演会, 2011年08月
Sub-gap states in Ge2Sb2Te5 phase change films, T. Gotoh, 24th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2011年08月
Sub-gap absorption study of amorphous InGaZnO4 films by photothermal deflection spectroscopy, T. Gotoh; K. Kaneda, 24th International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2011年08月
直流スパッタ法によるアモルファスInGaZnO4薄膜の作製と熱処理効果, 金田健児; 柿沼匠; 笠原俊; 後藤民浩, 第58回応用物理学会関係連合講演会, 2011年03月
Ge2Sb2Te5薄膜のサブギャップ光吸収, 後藤民浩, 第58回応用物理学会関係連合講演会, 2011年03月
Photoconductive properties of dc sputtered amorphous InGaZnO4 films, K. Kaneda; T. Gotoh, 2nd International Conference on Advanced Micro-Device Engineering, 2010年12月
シリコン系薄膜太陽電池のナノスケール接合評価, 後藤民浩, 第2回薄膜太陽電池セミナー, 2010年11月
薄膜シリコン太陽電池のナノスケール接合評価, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜のプロセス研究会, 2010年11月
熱処理によるGe2Sb2Te5薄膜の構造変化III, 後藤民浩; 川原井健太, 第71回秋季応用物理学会学術講演会, 2010年09月
熱処理によるGe2Sb2Te5薄膜の構造変化I, 川原井健太; 後藤民浩, 第57回応用物理学会関係連合講演会, 2010年03月
熱処理によるGe2Sb2Te5薄膜の構造変化II, 後藤民浩; 川原井健太, 第57回応用物理学会関係連合講演会, 2010年03月
Ge2Sb2Te5薄膜の高速結晶化 ―熱処理効果―, 川原井健太; 後藤民浩, 群馬大学平成21年度ATEC第9回談話会, 2010年01月
導電性プローブによるナノスケール相変化記録, 後藤民浩, 日本顕微鏡学会走査型プローブ顕微鏡分科会平成21年度研究会, 2009年12月15日
Improvement of crystallization rate in post-annealed Ge2Sb2Te5 films, K. Kawarai; T. Gotoh, 1st International Conference on Advanced Micro-Device Engineering, 2009年12月
Sub-gap absorption in InGaZnO4 films, T. Gotoh; K. Kawarai; H. Wakabayashi; K. Kaneda, 1st International Conference on Advanced Micro-Device Engineering, 2009年12月
Ge2Sb2Te5薄膜の光吸収スペクトル, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜の創製と物性に関する研究会, 2009年10月
Optical properties of post-annealed Ge2Sb2Te5 films, T. Gotoh; K. Kawarai, European Phase Change and Ovonics Symposium, 2009年09月
Optical absorption study of structural changes of Ge2Sb2Te5 films after annealing, T. Gotoh; K. Kawarai, 23rd International conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors, 2009年08月
アモルファスGe2Sb2Te5薄膜の結晶化速度−熱処理効果−, 川原井健太; 後藤民浩, 第56回応用物理学会関係連合講演会, 2009年03月31日
アモルファスGe2Sb2Te5薄膜の結晶化速度-熱処理効果-, 川原井健太; 後藤民浩, 第56回応用物理学会関係連合講演会, 2009年03月19日
アモルファスGe2Sb2Te5薄膜の高電界現象, 後藤民浩; 川原井健太, 平成20年度ATEC研究成果報告会, 2009年03月19日
Nanoscale crystallization in Ge2Sb2Te5 films using conductive AFM, T. Gotoh, Lab Visit: Discussion and Seminar at Utrecht University, 2009年
Nanoscale characterization of thin-film silicon solar cells, T. Gotoh, Lab Visit: Discussion and Seminar at RWTH Aachen University, 2009年
アモルファスGe2Sb2Te5薄膜の結晶化速度, 平成20年度ATEC研究成果報告会, 2009年
アモルファスGe2Sb2Te5薄膜の高電界現象のモデル, 後藤民浩, 第55回応用物理学会関係連合講演会, 2008年03月
Nano-area I-V characteristics in thin film solar cells, S. Nonomura; T. Gotoh; T. Itoh, 4th Workshop on the future direction of photovoltaics, 2008年03月
Nano-scale characterization of microcrystalline silicon solar cells by scanning nearfield optical microscopy, T. Gotoh; Y. Yamamoto; Z. Shen; S. Ogawa; N. Yoshida; T. Itoh; S. Nonomura, 17th International Photovoltaic Science and Engineering Conference, 2007年12月
近接場光学顕微鏡によるSi系薄膜太陽電池のナノスケール接合評価, 山本 芳樹; 後藤 民浩; 市川 裕之; 川上 知宏; 小川 俊輔; 吉田 憲充; 野々村 修一, 第54回応用物理学会関係連合講演会, 2007年09月
Characteristics at high electric fields in amorphous Ge2Sb2Te5 films, T. Gotoh, 22nd International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 2007年08月
近接場光学顕微鏡によるa-Si:H薄膜太陽電池のナノスケール発電評価, 山本芳樹; 後藤民浩; 沈振華; 小川俊輔; 吉田憲充; 野々村修一, 第54回応用物理学会関係連合講演会, 2007年03月
Localized oxidation influence of conductive atomic force microscope measurements on nano-scale I-V characterization of silicon thin film solar cells, Zhenhua Shen; M. Eguchi; T. Gotoh; N.Yoshida; T.Itoh; S. Nonomura, 4th International Conference on Hot-Wire CVD (Cat-CVD) Process, 2006年10月
Ge-Sb-Te薄膜の電気相変化過程, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜の創製と物性に関する研究会, 2006年09月
Ge2Sb2Te5薄膜の高電界現象, 後藤民浩, 応用物理学会, 2006年03月
ナノスケール電気相変化記録, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜の創製と物性に関する研究会, 2005年11月
相変化メモリーの基礎, 後藤民浩, 第32回アモルファスセミナー, 2005年11月
Nano-scale I-V characterization of uc-Si:H solar cell by Conductive Atomic Force Microscope, Zhenhua Shen; M. Eguchi; S. Ogawa; T. Gotoh; K.Sato; T.Itoh; N.Yoshida; S. Nonomura, International Photovoltaic Science and Engineering Conference, 2005年10月
ナノスケール電気相変化記録, 後藤民浩, 高機能セラミック薄膜の創製と物性に関する研究会, 2005年08月
AFMによるGe2Sb2Te5結晶薄膜へのナノスケール電気相変化記録, 佐藤秀幸; 菅原健太郎; 後藤民浩; 田中啓司, 第52回応用物理学会関係連合講演会, 2005年03月
ナノスケール電気相変化, 後藤民浩, 第31回アモルファス物質の物性と応用セミナー, 2004年11月
STMとAFMによる電気相変化の特性比較, 菅原健太郎; 後藤民浩; 田中啓司, 第62回秋季応用物理学会学術講演会, 2004年09月
Nanoscale phase changes in Ge-Sb-Te films with AFM and STM, K. Tanaka; T. Gotoh; K. Sugawara, 6th Solid State Chemistry 2004, 2004年09月
走査型プローブ顕微鏡によるナノスケール電気相変化記録, 後藤民浩; 菅原健太郎; 田中啓司, 第30回アモルファス物質の物性と応用セミナー, 2003年12月
STMによるGe2Sb2Te5アモルファス薄膜の表面変形, 菅原健太郎; 後藤民浩; 田中啓司, 第61回秋季応用物理学会学術講演会, 2003年09月
電気相変化記録の微小極限サイズ, 後藤民浩; 菅原健太郎; 田中啓司, 第50回応用物理学会関係連合講演会, 2003年03月
Scanning tunneling microscope modifications of amorphous Ge-Sb-Te films, K. Sugawara; T. Gotoh; K. Tanaka, 13th International symposium on non-oxide glasses and new optical glasses, 2002年09月
原子間力顕微鏡によるGeSb2Te4薄膜へのナノスケール電気相変化記録, 後藤民浩; 菅原健太郎; 田中啓司; 大石健司, 第62回応用物理学会学術講演会, 2001年09月
相変化電気メモリー:STM, AFMタイプ, 後藤民浩, 第62回秋季応用物理学会学術講演会, 2001年09月
Nanoscale electrical phase-change in GeSb2Te4 films with scanning probe microscopes, T. Gotoh; K. Sugawara; K. Tanaka, 19th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 2001年08月
Chalcogenides-glass microlenses for optical fibers, A. Saitoh; T. Gotoh; K. Tanaka, 20th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 2001年08月
STMによるGeSb2Te4薄膜の微細加工, 菅原健太郎; 後藤民浩; 田中啓司; 大石健司, 第48回応用物理学会関係連合講演会, 2001年03月
光ファイバー端面付着型As2S3マイクロレンズ, 斎藤全; 後藤民浩; 田中啓司, 第61回秋季応用物理学会学術講演会, 2000年09月
GeSb2Te4薄膜の微細加工(STM、AFM), 後藤民浩; 菅原健太郎; 佐々木政嗣; 田中啓司; 大石健司, 第61回応用物理学会学術講演会, 2000年09月
Ag-As-Sガラスの光誘起変形, 後藤民浩; 田中啓司, 第47回春季応用物理学関係連合講演会, 2000年03月
Laser processing of convex structures in chalcogenide glasses, T. Gotoh; K. Tanaka, The First International Symposium on Laser Precision Microfabrication, 2000年
Ag-As-Sガラスの巨大光膨張, 後藤民浩; 田中啓司, 第60回秋季応用物理学会学術講演会, 1999年09月
Photoinduced anisotropy in the ion-conducting amorphous semiconductor Ag-As-S, T. Gotoh; H. Hayakawa; K. Tanaka, 18th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 1999年08月
A study on the correlation between the photoinduced volume expansion and the internal stress in hydrogenated amorphous silicon, T. Sakamoto; N. Yoshida; H. Harada; T. Kishida; S. Nonomura; T. Gotoh; M. Kondo; A. Matsuda; T. Itoh; S. Nitta, 19th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 1999年08月
The light induced metastable lattice expansion in hydrogenated amorphous silicon, S. Nonomura; N. Yoshida; T. Gotoh; T. Sakamoto; M. Kondo; A. Matsuda; S. Nitta, 18th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 1999年08月
Ag-As-Sガラスの光誘起異方性のメカニズム(1), 早川秀樹; 後藤民浩; 田中啓司, 第46回春季応用物理学関係連合講演会, 1999年03月
Ag-As-Sガラスの光誘起異方性のメカニズム(2), 後藤民浩; 早川秀樹; 田中啓司, 第47回春季応用物理学関係連合講演会, 1999年03月
Photoinduced expansion in hydrogenated amorphous silicon, S. Nonomura; T. Gotoh; M. Nishio; T. Sakamoto; S. Nitta, Materials Research Society Symposium, 1999年
a-Si:Hの光誘起体積変化-uc-Si:Hを含む水素希釈率依存性-, 後藤民浩; 近藤道雄; 西尾基; 青野祐美; 野々村修一; 伊藤貴司; 松田彰久; 仁田昌二, 第45回春季応用物理学関係連合講演会, 1998年03月
a-Si:Hの光誘起体積変化-?c-Si:Hを含む水素希釈率依存性-, 後藤民浩; 近藤道雄; 西尾基; 青野祐美; 野々村修一; 伊藤貴司; 松田彰久; 仁田昌二, 第45回春季応用物理学関係連合講演会, 1998年03月
Correlation of stress with photo-degradation in hydrogenerated amorphous silicon prepared by hot-wire CVD, Daxing Han; T. Gotoh; M. Nishio; S. Nonomura; S. Nitta; Q. Wang; E. Iwaniczko, Materials Research Society Symposium, 1998年
ベンディング法によるa-Si:Hの光誘起構造変化の評価, 後藤民浩; 西尾基; 野々村修一; 仁田昌二; 近藤道雄; 松田彰久, 第24回アモルファス物質の物性と応用セミナー, 1997年11月
光熱ベンディング分光法によるa-Si:Hの光誘起構造変化の観察, 西尾基; 後藤民浩; 青野祐美; 桝井直継; 伊藤貴司; 野々村修一; 仁田昌二, 第58回秋季応用物理学会学術講演会, 1997年10月
ベンディング効果によるa-Si:Hの光誘起構造変化の評価, 後藤民浩; 近藤道雄; 西尾基; 青野祐美; 野々村修一; 伊藤貴司; 松田彰久; 仁田昌二, 第58回秋季応用物理学会学術講演会, 1997年10月
Sensitive detection of photoinduced structural change in a-Si:H by bending effect, T. Gotoh; S. Nonomura; M. Nishio; N. Masui; S. Nitta; M. Kondo; A. Matsuda, 17th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 1997年08月
Photoluminescence study of nanocrystalline GaN and AlN by reactive sputtering, K. Abe; S. Nonomura; S. Okamoto; Y. Kanemitsu; S. Kobayashi; M. Ohkubo; T. Gotoh; M. Nishio; S. Nitta, 17th International conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, 1997年08月
高次フラーレンの薄膜作製とその性質, 大森貴志; 渡辺英樹; 後藤民浩; 西尾基; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第13回フラーレン総合シンポジウム, 1997年07月
Localized states related to oxygen molecules intercalated into C70 films, H. Habuchi; D. Han; S. Nitta; T. Itoh; T. Gotoh; S. Nonomura, The 3rd International Workshop in Russia, Fullerenes and Atomic Clusters, 1997年06月
a-Si:Hの光誘起構造変化(1)-光熱ベンディング分光法による弾性率の変化-, 桝井直継; 後藤民浩; 近藤道雄; 野々村修一; 伊藤貴司; 岡本博明; 松田彰久; 仁田昌二, 第44回春季応用物理学関係連合講演会, 1997年03月
a-Si:Hの光誘起構造変化(2)-赤外光熱偏向分光法-, 後藤民浩; 平田聡; 桝井直継; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第44回春季応用物理学関係連合講演会, 1997年03月
Electrical and optical properties of nano-crystalline GaN and nano-crystalline GaN:H thin films, S. Kobayashi; S. Nonomura; K. Abe; T. Gotoh; S Hirata; S. Nitta; Y. Kanemitsu, Materials Research Society Symposium, 1997年03月
a-Si:Hの赤外吸収の観察(1)-赤外光熱ベンディング分光法の開発-, 後藤民浩; 平田聡; 桝井直継; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第57回秋季応用物理学会学術講演会, 1996年09月
a-Si:Hの赤外吸収の観察(2)-光照射と急速冷却効果-, 平田聡; 後藤民浩; 桝井直継; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第57回秋季応用物理学会学術講演会, 1996年09月
高感度光熱振動分光法によるa-Si:Hの評価, 後藤民浩; 渡辺英樹; 野々村修一; 仁田昌二, 第43回春季応用物理学関係連合講演会, 1996年03月
Photothermal bending spectroscopy, T. Gotoh; S. Nonomura; S. Hirata; S. Nitta, 8th International conference on photoacoustic and photothermal phenomena, 1996年
Radiative recombination quantum efficiencies of a-Si:H and C60 films by photothermal deflection spectroscopy, S. Nonomura; T. Gotoh; M. Kawade; S. Nitta, 8th International conference on photoacoustic and photothermal phenomena, 1996年
Photothermal bending spectroscopy and photothermal deflection spectroscopy of C60 thin films, T. Gotoh; S. Nonomura; S. Hirata; S. Nitta, 8th International conference on solid film and surface, 1996年
Optical and electrical properties of amorphous and microcrystalline GaN films and their application to transparent TFT, S. Kobayashi; S. Nonomura; T. Ohmori; K. Abe; S. Hirata; T. Uno; T. Gotoh; S. Nitta, 9th International conference on solid film and surface, 1996年
Optical properties of amorphous indium nitride films and their electrochromic and photodarkening effects, M. Ohkubo; S. Nonomura; H. Watanabe; T. Gotoh; K. Yamamoto; S. Nitta, 10th International conference on solid film and surface, 1996年
Changes of infrared absorption by light soaking and thermal quenching in a-Si:H, T. Gotoh; S. Nonomura; N. Masui; S. Nitta, 9th International photovoltaic science and engineering conference, 1996年
アモルファスおよび微結晶GaN、InN薄膜の光学的性質, 後藤民浩; 小林智司; 大久保雅雄; 渡辺英樹; 平田聡; 野々村修一; 仁田昌二, 第7回日本MRS学術シンポジウム, 1995年12月
光熱偏向分光法によるC60薄膜の輻射量子効率?の導出, 後藤民浩; 川出正也; 渡辺英樹; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第56回秋季応用物理学関係連合講演会, 1995年08月
光熱偏向分光法および光透過法によるC60薄膜の光学吸収端の温度依存性, 後藤民浩; 川出正也; 渡辺英樹; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第9回フラーレン総合シンポジウム, 1995年07月
低濃度B-doped a-Si:Hに対するPDSとCPM, 後藤民浩; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第42回春季応用物理学関係連合講演会, 1995年03月
C60薄膜における光学吸収端の温度依存性, 後藤民浩; 黒川崇; 守川正宏; 川出正也; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第42回春季応用物理学関係連合講演会, 1995年03月
a-Si:H薄膜における表面欠陥のPDSによる評価, 後藤民浩; 野々村修一; 伊藤貴司; 仁田昌二, 第55回秋季応用物理学関係連合講演会, 1994年09月